Frank F. Tsui The Cost and Speed Barriers in LSI/VLSI Testing : Can They Be Overcome By Testability Design ? [Citation Graph (0, 0)][DBLP] ITC, 1985, pp:892-906 [Conf]
Frank F. Tsui Die Abhängigkeit der Störabstände in Lesesignalen von dem Gesamtinformationsinhalt in einem Stromkoinzidenz-Ferritkernspeicher und ihre Verbesserung durch asymmetrische Ansteuerung (Teil 1). [Citation Graph (0, 0)][DBLP] Elektronische Rechenanlagen, 1964, v:6, n:2, pp:74-82 [Journal]
Frank F. Tsui Die Abhängigkeit der Störabstände in Lesesignalen von dem Gesamtinformationsinhalt in einem Stromkoinzidenz-Ferritkernspeicher und ihre Verbesserung durch asymmetrische Ansteuerung (Teil 2). [Citation Graph (0, 0)][DBLP] Elektronische Rechenanlagen, 1964, v:6, n:3, pp:133-137 [Journal]